KÍNH HIỂN VI KIỂM TRA CHỖ TRỐNG NITƠ- CIQTEK

Danh mục:
Xuất xứ: Trung Quốc
Thương hiệu:

Kính hiển vi đầu dò khuyết tật nitrogen (SNVM) của CIQTEK là một thiết bị phân tích khoa học tiên tiến kết hợp công nghệ cộng hưởng từ quang học phát hiện bằng khuyết tật nitrogen (NV) trong kim cương và công nghệ quét của kính hiển vi lực nguyên tử (AFM). Thiết bị này có khả năng thực hiện việc chụp ảnh từ trường định lượng và không phá hủy các mẫu từ với độ phân giải không gian cao và độ nhạy cao.

ĐẶC ĐIỂM NỔI BẬT

  • Đầu dò kim cương NV chất lượng cao
  • Hình ảnh từ không xâm lấn định lượng
  • Độ phân giải không gian cực cao từ 10-30 nm
  • Độ nhạy cực cao < 2μT/√Hz
  • Hỗ trợ các điều kiện ở môi trường bình thường và nhiệt độ thấp trong chân không cao

THÔNG SỐ KỸ THUẬT

SNVM (Phiên bản nhiệt độ phòng)

SNVM (Phiên bản nhiệt độ thấp)

Độ nhạy đo từ trường

≤ 2 μT/Hz1/2

≤ 5 μT/Hz1/2

Độ phân giải không gian

10-30 nm

Nhiệt độ hoạt động

300 K

2K – 300 K

Chức năng nổi bật

Hình ảnh hình ảnh từ trường định lượng, hình ảnh xung, hình ảnh từ lực từ, hình ảnh hình thái,..

Tùy chọn nam châm siêu dẫn

Không dùng helium: 1/1/1 T, 3/3/3 T, 9/1/1 T

Dùng helium lỏng: 6/1/1 T, 6/2/2 T

VIDEO THAM KHẢO

LIÊN HỆ VỚI CHÚNG TÔI

Liên hệ với chúng tôi để nhận bản tin về các sản phẩm mới, mã khuyến mại nhanh nhất.

LIÊN HỆ NGAY

Quyền lợi của khách hàng